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簡(jiǎn)要介紹

      ZCLK-001A聲學(xué)激光分析儀可以測(cè)試電聲產(chǎn)品的性能參數(shù)包括頻響曲線、阻抗曲線、諧波失真、互調(diào)失真、異音測(cè)試等。
其中異音測(cè)試是傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)的弱點(diǎn)。所謂異音（rub and buzz ）是指用掃頻信號(hào)測(cè)試揚(yáng)聲器時(shí)，產(chǎn)生惱人的雜音，是由系統(tǒng)非線性引起的。異音的產(chǎn)生大多是由揚(yáng)聲器的制造缺陷引起的，例如松散的振膜，松散的線圈，非中心振膜，線圈的摩擦，漏氣或其他缺陷。這些缺陷造成短脈沖具有突然變化的瞬時(shí)能量，從而產(chǎn)生令人耳不安的雜音。經(jīng)過(guò)訓(xùn)練的聽(tīng)音者可以有效地分辨出異音，但需要耗費(fèi)大量的人力物力，且聽(tīng)力疲勞會(huì)降低測(cè)試的準(zhǔn)確性，因此不適合用于生產(chǎn)線上的產(chǎn)品測(cè)試。

功能介紹

一∶功能測(cè)試小信號(hào)情況下的TS參數(shù)測(cè)試

主要關(guān)鍵揚(yáng)聲器參數(shù)（Rms、Kms、BL、Re、Res、FO、Mms、Cms、Qms、Qes、Qts）等電和機(jī)械特性參數(shù)

二∶ DIS 功能測(cè)試︰利用激光振動(dòng)狀態(tài)進(jìn)行分析和監(jiān)控

可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)和多點(diǎn)的揚(yáng)聲器振膜位置監(jiān)控。分析產(chǎn)品在不同的輸入功率下和音膜振動(dòng)位移的關(guān)系、振膜搖擺分割振動(dòng)狀態(tài)。測(cè)試揚(yáng)聲器音膜的振動(dòng)對(duì)稱，以及多點(diǎn)位置下的位移一致性，分析產(chǎn)品分割振動(dòng)模態(tài)。

三：Acoustic 功能:MIC對(duì)揚(yáng)聲器聲學(xué)性能以及純音等參數(shù)進(jìn)行測(cè)試

包含（FR、SPL、THDHD、HOHD、Rub&buzz、BBN 、IMP、Puresound ）優(yōu)點(diǎn)能夠符合一般聲學(xué)廠商的聲學(xué)性能測(cè)試要求，簡(jiǎn)潔方便既可以作為研發(fā)分析用，也可以作為產(chǎn)線批量檢測(cè)用。本設(shè)備集成目前主流聲學(xué)測(cè)試應(yīng)用軟件，并推陳出新，并根據(jù)聲學(xué)業(yè)內(nèi)20年的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)添加真正能夠代替人耳純音的測(cè)試功能。配合合適的硬件能夠完全代替人耳測(cè)試純音。

四：直流偏置測(cè)試功能檢查產(chǎn)品音圈位不同位置狀態(tài)下對(duì)性能的影響

可以在給揚(yáng)聲器測(cè)試信時(shí)候附加一個(gè)正向或則負(fù)向的DC ofiset，讓揚(yáng)聲器工作時(shí)音圈位置正偏或則負(fù)偏。通過(guò)電壓回采測(cè)試實(shí)際揚(yáng)聲器兩端偏置電壓，并通過(guò)激光實(shí)時(shí)測(cè)試揚(yáng)聲器音膜的偏置位移。并測(cè)試出在各個(gè)不同偏置位移下的聲學(xué)性能指標(biāo)，包括（FR、THDHOHD、純音）等變化趨勢(shì)。