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ST4200局部放電檢測儀與SW2001高壓繼電器相結(jié)合，可為電機生產(chǎn)測試提供全面的局部放電(PD)檢測和系統(tǒng)集成。ST4200的高頻CT局部放電檢測有效抑制了生產(chǎn)線中的干擾，解決了使用傳統(tǒng)電磁波進行局部放電檢測時可能會出現(xiàn)的測量結(jié)果波動問題。
●雙模式局部放電檢測：通過交流PD和脈沖PD進行可靠檢測
●使用高頻CT進行抗干擾局部放電測試
●與高壓繼電器盒SW2001兼容
| 檢測方式 | 使用符合IEC 60270 與 IEC 60034-27-1標準的檢測阻抗與帶通濾波器的放電電荷量測量方式 |
|---|---|
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測試頻率范圍 (施加電壓) |
45 Hz ～ 1.1 kHz |
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電荷量測量范圍 （Q） |
10 pC ≦ Q ≦ 500 pC（被測物靜電電容 C：200 pF ≦ C < 2 nFにおいて） 10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC（被測物靜電電容C：2 nF ≦ C ≦ 10 nFにおいて) |
| 測量項目 |
【通常模式】 重復發(fā)生的大PD強度(Q max)，PD脈沖發(fā)生數(shù)(m，m+，m-)，PD脈沖發(fā)生率(n)，電壓有效值(U rms)，電壓波高值(Up+，Up-)，平均放電電流(I)，放電功率(P)，二次率(D)，PD脈沖的表觀電荷(q)，PD脈沖相位角(φ) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD起始電壓(Ui)、PD熄滅電壓(Ue) |
| 檢測方式 | 基于IEC 61934 Edition 2.0 以及IEC 60034-27-5，通過CT和數(shù)字濾波檢測放電電流 |
|---|---|
| 采樣速度 | 200 MS/s |
| 測量項目 |
【通常模式】 PD峰值放電量(Qpk)、脈沖序列中的PD發(fā)生數(shù)(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD發(fā)生起始電壓(PDIV)，重復PD發(fā)生起始電壓(RPDIV)，重復PD熄滅電壓(RPDEV)，PD熄滅電壓(PDEV)，重復PD峰值放電量(RQpk) |
| 控制內(nèi)容 | 作為局部放電的高壓發(fā)生源，會用到絕緣耐壓測試儀、脈沖線圈測試儀去聯(lián)動控制 |
|---|---|
|
對應儀器 （2025年2月為止） |
自動絕緣/耐壓測試儀3153、脈沖線圈測試儀ST4030、ST4030A等 |
| 測量項目 |
【通常模式】 PD峰值放電量(Qpk)、脈沖序列中的PD發(fā)生數(shù)(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD發(fā)生起始電壓(PDIV)，重復PD發(fā)生起始電壓(RPDIV)，重復PD熄滅電壓(RPDEV)，PD熄滅電壓(PDEV)，重復PD峰值放電量(RQpk) |
| 測量模式 |
普通模式：施加一定電壓，進行單次或連續(xù)測量 PDIV模式：根據(jù)標準的要求，在改變施加電壓的同時進行測量 |
|---|---|
| 功能 | 判定功能，圖表顯示功能（交流PD：電壓波形、PD脈沖監(jiān)視器/脈沖PD：電流波形、PD脈沖監(jiān)視器） |
| 外部存儲設備 |
SD 存儲卡、U盤、SSD ※請務必使用本公司的選件。 |
| 放射性無線頻率 | 50 pC以下（在10 V/m時） |
| 電磁場的影響 | 50 pC以下(在10 V時) |
| 傳導性無線頻率電磁場的影響 | 50 pC以下(在10 V時) |
| 疊加到電源上的脈沖干擾的影響 | 50 pC以下(1kV，疊加脈寬50 ns的脈沖干擾時) |
| 接口 | LAN, USB, RS-232C（請使用市售USB串行轉(zhuǎn)換線）, EXT. I/O, MONITOR輸出 |
| 電源 | 額定電源電壓：AC 100 V～240 V, 額定功率：300 VA |
| 尺寸·體積 | 約353（W）×約235（H）×約154.8（D） mm（不含突起物）, 約7.3 kg（安裝U8332時）, 約7.1 kg（未安裝U8332時） |
| 附件 | 電源線 × 1, 啟動指南 × 1, 使用注意事項 × 1 |
| 文件名 | 下載 |
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