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　　吉時(shí)利自動(dòng)化檢定套件(ACS)是靈活的交互式軟件測(cè)試環(huán)境，可用于器件檢定、參數(shù)化測(cè)試、可靠性測(cè)試，甚至簡(jiǎn)單的功能測(cè)試。ACS支持各種吉時(shí)利儀器和系統(tǒng)、硬件配置和測(cè)試設(shè)置，從用于QA實(shí)驗(yàn)室的一些臺(tái)式儀器到完全集成且基于機(jī)架的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。利用ACS，用戶(hù)可使用自動(dòng)硬件管理工具配置儀器，并快速執(zhí)行測(cè)試，無(wú)需具備編程知識(shí)。

　　用于特性分析的靈活編程方式

　　ACS的特點(diǎn)是腳本編輯器，這是一個(gè)獨(dú)立的工具，帶有圖形用戶(hù)界面，用于開(kāi)發(fā)Python代碼和TSP?腳本，進(jìn)行儀表控制、數(shù)據(jù)分析和系統(tǒng)自動(dòng)化操作。其提供創(chuàng)建和開(kāi)發(fā)GUI設(shè)計(jì)以及管理用戶(hù)庫(kù)和模塊的直觀(guān)方法。

　　自動(dòng)化數(shù)據(jù)收集過(guò)程

　　ACS的晶圓探針自動(dòng)化選項(xiàng)使您能夠輕松將各種常用的半自動(dòng)或全自動(dòng)晶片探針臺(tái)連接到測(cè)試設(shè)置中，從而可以快速捕獲大量數(shù)據(jù)。此選項(xiàng)包括晶片描述實(shí)用程序、具有晶片評(píng)等功能的實(shí)時(shí)晶片圖、暗盒樣品計(jì)劃實(shí)用程序以及測(cè)試后暗盒和晶片查看實(shí)用程序。ACS內(nèi)置的許多工具和功能都可以增強(qiáng)設(shè)備的自動(dòng)檢定能力。

　　分享測(cè)試項(xiàng)目和結(jié)果

　　ACS提供了一組通用的關(guān)鍵元素，可以跨多種硬件配置工作，從而減少了時(shí)間并提高了生產(chǎn)率。系統(tǒng)從一個(gè)硬件到另一個(gè)硬件實(shí)現(xiàn)的執(zhí)行是一致的，因此，例如，很容易將用于單設(shè)備組件表征的基礎(chǔ)ACS系統(tǒng)的你的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)移到另一個(gè)設(shè)計(jì)用于晶圓級(jí)測(cè)試的系統(tǒng)。

　　大限度地提高Keithley硬件的生產(chǎn)率

　　ACS中的工具簡(jiǎn)化了測(cè)試開(kāi)發(fā)流程，大限度地提高了與系統(tǒng)相連的每個(gè)Keithley儀器的速度。ACS和Keithley基礎(chǔ)TSP的硬件一起提供了超高的吞吐量，從而降低了測(cè)試成本，不需要您在獲得實(shí)現(xiàn)目標(biāo)所需的數(shù)據(jù)之前花時(shí)間學(xué)習(xí)新的編程概念或語(yǔ)言。